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Low Frequency Noise Spectroscopy of SOI Wafers

Low Frequency Noise Spectroscopy of SOI Wafers

Concepts, Methods, Applications
 Paperback
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The initial quality of the Silicon-On-Insulator

Produktdetails

Autor: Vadim Kushner
ISBN-13: 9783639130577
ISBN: 363913057X
Einband: Paperback
Seiten: 120
Gewicht: 195 g
Format: 220x150x7 mm
Sprache: Englisch
Autor: Vadim Kushner
Vadim Kushner, Ph.D. in Electrical Engineering: studied Solid State Electronics at Arizona State University, Tempe, AZ; an expert in Low Frequency Noise Spectroscopy, device and material characterization.

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Rezensionen

Autor: Vadim Kushner
ISBN-13:: 9783639130577
ISBN: 363913057X
Verlag: VDM Verlag Dr. Müller e.K.
Gewicht: 195g
Seiten: 120
Sprache: Englisch
Sonstiges: Taschenbuch, 220x150x7 mm