Low Frequency Noise Spectroscopy of SOI Wafers

Concepts, Methods, Applications
 Paperback
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ISBN-13:
9783639130577
Einband:
Paperback
Seiten:
120
Autor:
Vadim Kushner
Gewicht:
195 g
Format:
220x150x7 mm
Sprache:
Englisch
Beschreibung:

The initial quality of the Silicon-On-Insulator