Performance and Reliability of Semiconductor Devices: Volume 1108
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Performance and Reliability of Semiconductor Devices: Volume 1108

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ISBN-13:
9781605110806
Einband:
Buch
Seiten:
259
Autor:
Michael Mastro
Gewicht:
476 g
Format:
234x155x20 mm
Serie:
Mrs Proceedings
Sprache:
Englisch
Beschreibung:

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.